東莞低溫恒溫恒濕試驗箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在高低溫或濕熱環(huán)境下、檢驗其各性能項指標(biāo)。

性能參數(shù)：

設(shè)備內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：500*600*500MM(更多尺寸、溫度范圍可參考廠家產(chǎn)品介紹目錄做選擇，或者非標(biāo)定做）。

內(nèi)箱尺寸可選(mm)寬*高*深 W*H*D ：400×500×400 mm/500×500×400 mm/500×600×500 mm/600×850×800 mm/1000×1000×800 mm//1000×1000×1000 mm。

溫度范圍：-70℃-150℃（也可以選擇中間其中一段，如-60℃-150℃；-40℃-150℃；-20℃-150℃；0℃-150℃）。

分布均勻度:1.溫度±0.5%℃；2.濕度±2.5%RH；解析精度：1.溫度±0.1℃；2.濕度±0.3%RH。

降溫速度RT20℃至-70℃約需90分鐘；升溫速度:RT20℃至+150℃約需40分鐘（可定做快速溫變試驗設(shè)備）。

東莞低溫恒溫恒濕試驗箱可滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：

GB2423.2-2008(IEC68-2-2)試驗B：高溫試驗方法；GB2423.1-2008(IEC68-2-1)試驗A：低溫試驗方法；GB2423.22-2008(IEC68-2-14)試驗NB：溫度循環(huán)試驗方法 。GB2423.3-2006(IEC68-2-3)試驗CA：恒定濕熱試驗方法GB2423.4-2008(IEC68-2-30)試驗CB：交變濕熱試驗方法；GJB150.3A-2009(MIL-STD-810D)高溫試驗方法 。GJB150.4A-2009(MIL-STD-810D)低溫試驗方法 ；GJB150.9A-2009(MIL-STD-810D)濕熱試驗方法。